Greetings 挨拶
Keithley Days 2019 では、材料、デバイス評価、部品測定から信頼性評価、量産システムアプローチま
で、最新の技術課題にフォーカスし、計測トレンドやソリューション、活用事例を多数ご紹介します。また
米国本社よりケースレーのシステム製品を統括する責任者が来日し、パラメトリック・テストの最新情報
を解説します。会場内では展示、デモンストレーション・コーナもご用意しております。
皆様のご参加を心よりお待ち申し上げております。
| タイトル |
Keithley Days 2019
～研究開発から量産まで、エンジニアと共に問題解決に挑む～ |
| 開催日時 |
2019/08/01(木) ～ 2019/08/02(金)
9:50-17:30 （9:15受付開始） |
| 会場 |
テクトロニクス品川本社セミナ・ルーム 品川インターシティB棟 6階 JR品川駅 港南口からのアクセス |
| 主催社 | テクトロニクス ※本セミナはエンド・ユーザ企業様を対象としております。同業他社様およびフリー・メールアドレスからのお申し込みはご遠慮いただく場合がございますので、あらかじめご了承ください。 |
開催日時：
2019 年8 月1 日（木）、8 月2 日（金）9:50-17:30 （受付開始 9:15）
参加料：
無料 （事前登録制)
開催場所：
テクトロニクス品川本社セミナ・ルーム https://jp.tek.com/corporate-map
東京都港区港南2-15-2 品川インターシティB 棟6F（JR 品川駅港南口より徒歩5 分）
対象者
材料、デバイス評価、部品測定などに従事される研究／開発エンジニアの方
－様々な材料、部品、デバイス評価の最新情報やノウハウが知りたい方
－自動計測を実現し、デバイス特性評価の作業効率を高めたい方
－現在の測定・評価に課題を感じている方
テスト・システムに興味があるエンジニアの方
－測定環境に適した信頼性試験システムを構築したい方
－測定器だけでなく、信号の接続も考慮したシステムを構築したい方
－デバイスやTEG 試験において、TAT 短縮を実現したい方
－テストのスループットを改善したい方、課題をお持ちの方
－パラメトリック・テスト・システム導入を検討中の方
※タイムテーブル枠右上の「<」「>」をクリックすると前日・翌日のセッションが表示されます。
※お申し込みの際は必ず受講を希望するセッションにチェックを入れてください
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